荧光定量数据分析-荧光定量数据分析(2-ΔΔCt法)

大家好，今天小编关注到一个比较有意思的话题，就是关于荧光定量数据分析的问题，于是小编就整理了2个相关介绍荧光定量数据分析的解答，让我们一起看看吧。

1. 荧光定量计算公式？
2. xrf荧光光谱仪定量分析方法？

荧光定量计算公式？

Ct=-1/lg(1+Ex)*lgX0+lgN/lg(1+Ex)。

n为扩增反应的循环次数，X0为初始模板量，Ex为扩增效率，N为荧光扩增信号达到阈值强度时扩增产物的量。

起始拷贝数越多，Ct值越小。利用已知起始拷贝数的标准品可作出标准曲线，其中横坐标代表起始拷贝数的对数，纵坐标代Ct值。因此，只要获得未知样品的Ct值，即可从标准曲线上计算出该样品的起始拷贝数。

xrf荧光光谱仪定量分析方法？

分析方法，可以划分为实验校正法和数学校正法两大类属于实验校正法，即主要以实验曲线进行定量测定为特征的，通常可分为：

a.外标法 包括直接校正法、稀释法和薄试样法等。

b.内标法 包括单标样内标法、可变内标法、内部控制标准法以及内部和外部的强度参比标准法等。

c.散射线标准法 包括本底标准法靶线标准法以及相干对不相干散射的强度比例法等。这种方法基本属于内标法一类，是种特殊的内标。

d.其它方法 包括增量法质量衰减系数测定法、发射吸收法和间接测定法等。此外，还有艾伯尔（Ebe，H.）等发展起来的可变出射角法。

到此，以上就是小编对于荧光定量数据分析的问题就介绍到这了，希望介绍关于荧光定量数据分析的2点解答对大家有用。